傳統移相干涉儀使用壓電元件等移動參考平面來獲取干涉條紋的圖像，并計算相位分布。這種方法的缺點是單次測量至少需要100 毫秒，期間干涉儀與測量樣品之間會發生相對振動和空氣波動，導致干涉條紋發生波動，從而增加測量誤差。為了解決這些問題，DI 100 動態干涉儀采用了“動態干涉測量”技術，無需機械移動參考平面，一次圖像數據采集即可獲得四幀相移干涉圖。由于對相機的每個像素進行相移，可以穩定地收集數據，并且由于一次測量的時間可以縮短到 30 微秒，因此可以在干涉圖像因振動等而發生變化之前的瞬間進行測量

i3D 系列產品是非接觸式光學面形檢測設備，可實現旋轉對稱光學元件3D形貌的超精密、高速測量。適用于透明與非透明、光滑與粗糙等多種表面類型的檢測分析。

OptoFlat? 高精度低相干干涉儀是行業內獨有的低成本、高穩定性以及結構緊湊的平面專用低相干干涉儀。其采用低相干性長壽命633nm的LED光源，波長帶寬1nm。在測量透明材質的雙面平行光學元件的單個表面面型時不會受到其他表面的干涉條紋影響，所以OptoFlat可以排除來自多個表面的干擾，直接測得目標表面的面型精度。對于測量實心玻璃棱鏡的前表面面型時也可以抑制其他反射面的影響。

*用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統

*適合長焦光學零件和系統的檢測

*鏡頭口徑：50mm、100mm或150mm

用于測量高精度要求的光學零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學表面的前提下對光學表面及波前進行最精確的評價。