產品型號

WaveMaster® COMPACT

WaveMaster® COMPACT Reflex

WaveMaster® COMPACT Universal

測量范圍

球面、非球面鏡片的光學波前面

鏡片、鏡頭的表面面型

球面、非球面鏡片的波前質量

鏡片、鏡頭的表面面形

測量模式

透射式

反射式

反射式

透射式

精度指標

微透鏡陣列：138×138

波前測量精度：<l/20 (RMS)

波前測量重復性：<l/200 (RMS)

波前測量動態范圍：2000 l

測量頻率：12Hz

微透鏡陣列：138×138

表面面形測量精度：<0.050 µm (RMS)

表面面形測量重復性：<0.005 µm (RMS)

表面面形動態范圍：> 200 µm

最大非球面度：≤7°

測量頻率：12Hz

微透鏡陣列：138×138

波前測量精度：

波前測量重復性：<l/200 (RMS)

波前測量動態范圍：2000 l

表面面形測量精度：<0.050 µm (RMS)

表面面形測量重復性：<0.005 µm (RMS)

表面面形動態范圍：> 200 µm

最大非球面度：≤7°

測量頻率：12Hz

傳感器類型

WaveSensor 150

樣品口徑

0.5mm…14mm

（根據望遠鏡放大率選配）

0.5mm…18mm

6mm…14mm（標配）

樣品焦距

-30mm…100mm

（根據數值孔徑NA選配）

——

-12mm…50mm（標配）

樣品半徑

——

-50 mm…30mm

——

光源

標配532nm

可擴展波長365nm…1064nm

365nm或635nm

透射模塊：532nm

反射模塊：635nm

樣品夾持器

單孔位

手動調節