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深入了解邁克爾遜干涉儀在光纖端面測量中的應用

    在當今的科技領域,光纖技術的發展日新月異,而在光纖端面的測量中,邁克爾遜干涉儀發揮著至關重要的作用。


    市面上常見的光纖端面干涉儀多采用Michelson式或Mirau式,這一選擇實則是由光纖自身的參數所決定的。由于其他形式的干涉儀橫向分辨率過低,無法滿足測量需求,唯有這兩種能夠勝任。


    邁克爾遜干涉儀的工作原理基于光的干涉現象。通過分束器將照明光分成兩束,當這兩束光在重疊部分的傳播距離為光波長的整數倍時,就會發生相長干涉;而當傳播距離是光波長一半的奇數倍時,則會發生相消干涉,從而形成干涉條紋。

 

深入了解邁克爾遜干涉儀在光纖端面測量中的應用


    通過圖像我們可以清晰地看到,在平面參考鏡和球形連接器端面之間會出現條紋。其中,中心的黑色圓圈是直徑為125微米的光纖,因其反射率低于陶瓷,導致光亮度不足而呈現黑色。


    值得注意的是,隨著待測產品的不斷發展,越來越多的是多芯產品。在這種情況下,Mirau式干涉儀已無法滿足測量需求,此時只能采用Michelson式干涉儀。這一選擇的背后,也參考了之前博文中關于芯片測量用的幾種干涉儀原理光路和特點的相關內容。


    總之,邁克爾遜干涉儀在光纖端面測量領域的應用,為光纖技術的不斷進步和發展提供了有力的支持和保障。

創建時間:2024-08-12 10:04
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